力量EDS -XFlash®630
从Bruker EDS系统的扩展线的XFlash®630系列有2种型号的桌面SEM (630H紧凑)和全尺寸SEM (630N幻灯片类型)使用ESPRIT紧凑软件简单或高级元素微观分析
将Bruker EDS添加到你的SEM中，使它成为一个非常强大的分析工具，允许使用先进的微量分析功能进行元素分析。与任何桌面扫描电镜的最佳起飞角度，EDS信号收集在一个最佳的立体角度，不同于其他桌面扫描电镜设计。
的Bruker ESPRIT Compact软件提供了许多功能来探测示例的合成、厚度和映射，如下面的截图和解释所示。
视频演示操作的Bruker ESPRIT软件可根据要求提供-请欧宝体育上yb1k点com访问指令
XFlash®630 EDS的主要规格
- 高速嵌入式SDD检测器(不需要LN2)
- 能量分辨率:小于129 eV(在Mn Ka)
- 探测器面积:30毫米
- 元素检测范围:B(5) - Am(95)
- 最大输入计数率:> 150 kcps
- 软件:定性或定量分析
- 分析方式:点、圆、多边形、线扫描、映射
点/面积组成
- 该软件具有易于使用的特点，可以对点、矩形、圆形和多边形进行成分分析
- 具有快速、准确、校准能力的定性、定量分析标准
- 增强的反褶积能力大大提高了量化结果
映射
- 快速和高分辨率的映射分析与布鲁克的HyperMap
- 映射提供了分析元素分布的功能
- 单个元素分布的地图可以被分割并单独保存
- 每个像素的光谱被保存在一个数据库中，以便于以后的检索和点或线扫描分析操作
- 用于保存格式、颜色、深度、过滤器等的各种用户设置
线扫描
- 用一条线绘制感兴趣的区域，并分析这条线上的元素
- 便于沿ROI与线轮廓图比较基本差异
- 对包括混合区在内的多层样品的截面厚度分析非常有用
- 各种用户设置保存格式，颜色，行扫描宽度，过滤器和更多
报告
- 提供了各种报告格式，可以根据需要进行编辑
- 一键保存报表在Word或PDF
