自动特征和粒子分析

COXEM CX-200plus或thh EM-30AX NEXT SEM系统作为基础平台,可以将SEM作为一个真正的分析工具,为样品中的数千个粒子生成高度特定的数据集,并以各种方式报告数据,以满足应用需求。

该CX-200plus SEM目前与任何AZtecLive平台和它的EDS探测器来自牛津仪器力量XFlash EDS系列使用ESPIRT QuantAX布鲁克纳米分析的平台和EDS探测器。

在SEM/EDS中添加自动颗粒和特征分析软件,将其变成一个非常强大的分析工具,用于关键应用的质量控制测试,如下面列出的这些:

清洁应用可能是该技术最广泛的应用,并应用于各种行业的过程控制检查,如汽车装配、发动机装配、计算机硬盘驱动器、航空航天液压和燃油系统等。欧宝娱乐合法吗

扫描电镜自动颗粒和特征分析
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硬件

各种特殊的样品持有人可为CX-200plus,以适应多个样品运行在这些自动功能和粒子分析例程。以下是一些例子:

EM-Tec CS25-4多针短支架

扫描电镜上的颗粒包括GSR

地质薄片大面积填图

冶金安装支架树脂安装和抛光样品(钢,矿物)

半导体晶片

各种尺寸的膜过滤器

软件

AZtecFeature:最新进展和新应用网络研讨会:

阿兹台克锶的弹药残留分析:

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AZtecEnergy的大面积绘图:

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矿物解离分析: