自动特征和粒子分析

使用Coxem CX-200plus或THH EM-30AX下一步SEM系统作为基础平台,可以使用SEM作为一种真正的分析工具,在样本中为数千个粒子产生高度特定的数据集,并以各种方式报告数据这适合申请要求。

CX-200plus SEM目前适用于azteclive.来自牛津工具的平台及其EDS探测器Bruker Xflash eds.系列使用Espirt量子Bruker纳米分析的平台和EDS探测器。

向SEM / EDS添加自动粒子和特征分析软件将其转化为一个非常强大的分析工具,用于在此处列出的关键应用中的质量控制测试:

清洁度应用可能是该技术的最广泛的应用应用,并且在各种行业中的过程控制检查期间应用于汽车组装,发动机组件,计算机硬盘,航空液压和燃料系统等各种行业。欧宝娱乐合法吗

SEM的自动粒子和特征分析
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硬件

CX-200plus提供各种特殊样品架可容纳多个样本在这些自动化功能和粒子分析程序中运行。这里显示了一些例子:

EM-TEC CS25-4 Mutipe Pin托架

SEM存根的粒子包括GSR

地质薄部分的大面积映射

用于树脂安装和抛光样品的冶金支架(钢,矿物质)

半导体晶片

膜过滤器以各种尺寸

软件

aztecfeature:最近的进步和新应用网络研讨会:

Aztecgsr的枪声残留分析:

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Aztecenergy的大面积映射:

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矿物解放分析:inpaminer: