Bruker Eds -Xflash®630.
来自Bruker EDS系统的膨胀线的XFlash®630系列可用于桌面SEM（630H紧凑型）和全尺寸SEM（630N幻灯片类型）的2种型号，使用ESPRIT Compact软件进行简单或高级元素微型分析
将Bruker EDS添加到SEM中将其变为一个非常强大的分析工具，允许使用高级微显示功能进行元素分析的多种能力。与任何桌面SEM的最佳起飞角度，与其他桌面SEM设计不同，EDS信号以最佳的立体角收集。
该Bruker Esprit Compact软件提供探测样品组合物，厚度和映射的许多能力，如下面的屏幕截图和解释所示。
视频演示了Bruker Esprit软件的操作可根据要求提供 - 请欧宝体育上yb1k点com用于访问指令
XFlash®630EDS的主要规格
- 高速嵌入式SDD Dector（无需LN2）
- 能量分辨率：少于129 ev（在Mn Ka）
- 探测器区域：30mm
- 元素检测范围：B（5） - am（95）
- 最大输入计数率：> 150 KCPS
- 软件：定性或定量分析
- 分析模式：点，圆，多边形，线路扫描，映射
点/区域组成
- 该软件在点，矩形，圆和多边形方面易于使用成分分析功能
- 具有校准能力的快速准确的定性或定量分析是标准的
- 增强的解卷积能力大大提高了量化的结果
映射
- 快速和高分辨率的映射分析与Bruker的Hypermap
- 映射提供了分析元素分布的功能
- 单个元素分配的地图可以分开爆发并单独保存
- 每个像素的光谱保存在数据库中，以便稍后调用和操纵点或线扫描分析
- 用于保存格式，颜色，深度，过滤器等的各种用户设置
线扫描
- 使用线路绘制ROI（兴趣区域）并沿该线分析元素
- 易于使用线路配置文件图沿ROI比较元素差异
- 对于包括混合区的多层样品的横截面厚度分析非常有用
- 用于保存格式，颜色，线扫描宽度，过滤器等的各种用户设置
报告
- 提供各种报告格式，可以根据需要进行编辑
- 一键在Word或PDF中保存报告
