自动特征和粒子分析
使用COXEM CX-200plus或thh EM-30AX NEXT SEM系统作为基础平台,可以将SEM作为真正的分析工具,为样品中的数千个颗粒生成高度特定的数据集,并以各种方式报告这些数据,以满足应用要求。
CX-200plus SEM目前与任一AZtecLive平台和它的EDS探测器来自牛津仪器或力量XFlash EDS系列使用ESPIRT QuantAX平台和布鲁克纳米分析的EDS探测器。
将自动粒子和特征分析软件添加到您的SEM/EDS将其变成一个非常强大的分析工具,用于关键应用的质量控制测试,如以下所列:
- 自动化的功能/粒子分析
- autopphase Mapping和大面积EDS Mapping
- 污染物分析和粒径测定加法制造与牛津AZtecAM
- 金属夹杂物分析(钢清洁——ASTME1245/E2142/E45)
- 矿物相分析,矿物分离,模态矿物学,岩石学
- 〇射击残留物GSR(ASTME1588)
- 一般粒子分析清洁(ISO16431/184131246年基础,幸福属于1246 e)
- 穿粒子分析(ARP 598c, ASTMD7416, ASTMF311/F312,ISO 16232 - 8,ISO 4407)
- 环境粒子过滤器或湿巾(ASTMD6059, ASTME2090,ISO 14966)
- 颗粒污染注射和静脉输液788年(USP)
清洁度应用可能是该技术最广泛的应用,并应用于各种行业的过程控制检查,如汽车装配、发动机装配、计算机硬盘驱动器、航空液压和燃料系统等。欧宝娱乐合法吗
各种特殊的样品持有人可用于CX-200plus,以适应多个样品运行在这些自动化特征和粒子分析例程。以下是一些例子:

扫描电镜碎屑上的颗粒包括GSR

地质薄片大面积填图

用于树脂安装和抛光样品的冶金支架(钢,矿物)

半导体晶片

各种尺寸的膜过滤器